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2014-1
进行耐压测试时,技术规格不同的被测试品,测量标准也就不同。对一般被测设备,耐压测试是测量火线与机壳之间的漏电流值,基本规定是:以两倍于被测物的工作电压再加1000V作为测试的标准电压。部分产品的测试电压可能高于这一规定值...
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2014-1
测量条件参考:元件规格测量频率测量方式备注电容100KHz并联电容≥1μF(非电解电容)100Hz并联电容≥1μF(电解电容)100Hz串联另加直流偏置,比如1V电感<100nH100KHz串联视情况加直流偏置电感≥1H...
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2014-1
上升时间:系指待测电压由0V缓步增加至额定测试电压所需的时间。一般来说,多使用在DC耐压测试电容性负载时,以避免电容性待测物因瞬间加压而产生过大的瞬间充电电流,造成测量的误判。
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2014-1
耐压测试仪的容量一般指交流测试的输出功率。因此耐压测试仪的容量决定于zui大的交流输出电压xzui大交流电流。以GPI-74为例:5000Vx40mA(0.04A)=200VA;以GPT-815为例:5000Vx100m...
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2014-1
绝缘阻抗(IR)测试是一种定性测试,提供绝缘系统的相对质量的一个表示。测试时通常用500V或1000V的DC电压进行,结果用兆欧电阻(MΩ)来度量。耐压测试(Hi-Pot)测试则是一种定量测试,同样也给DUT施加高压,但...
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2014-1
绝缘阻抗是绝缘材料质量的测量,其测试方式和耐压测试非常相似。同样是当电气产品在未上电的状态下,把高达500V(或zui大1000V)的直流电压施加到需要测试的两个互相绝缘的点。绝缘阻抗(IR)测试给出的通常是以兆欧(MΩ...
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2014-1
如今随着电子产品电压的不断攀升,400V,600V甚至1000V,能满足如此高电压的电子负载型号非常有限。于是很多人就会考虑将多台电子负载串联的办法,但是绝大部分的电子负载都是无法串联使用的。电子负载和直流电源一样,具有...
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2014-1
耐压测试既可能是AC耐压、也可能是DC耐压,甚至两者皆需要,*取决于特定产品类型;一般而言,AC耐压比DC耐压更常被必须要执行。举例来说,一般消费性电气产品使用交流电源的情况,多过于使用直流电源。所以,zui低限度,产品...
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LCR测试仪的基本准确度,指其在*测试条件下所获得的准确度。一般而言,基本准确度不包括来自外部可能的误差,例如测试治具或测试线;并且准确度的取得是当LCR表处于的测试信号、频率、zui慢的测量速度。而LCR测试仪的实际准...
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2014-1
有可能信号发生器设为低阻输出了。现实中的电压源一般可等效为理想电压源串联内阻(阻值很小)的方式。函数信号发生器高阻输出时,发生器的设置值即为模型中理想电压源的真实值2V。低阻输出时,应接入与发生器输出阻抗匹配的负载网络,...